在今天大多數(shù)電子產(chǎn)品中，由于超細(xì)間距的元器件，雙面貼裝的模塊以及射頻電路的存在，使得根本無(wú)法１００％測(cè)量全部電氣節(jié)點(diǎn)。雖然電子產(chǎn)品制造廠商當(dāng)前大量采用的ICT在線測(cè)試儀,理想情況是可以用針床給全部電氣節(jié)點(diǎn)加載測(cè)試信號(hào)以發(fā)現(xiàn)制造缺陷。然而，在一些電子產(chǎn)品比如高檔手機(jī)中，一個(gè)測(cè)試焊盤(pán)甚至比０４０２這樣的分離器件還要大。ICT在線測(cè)試儀只能測(cè)試其中不到５０％的電氣節(jié)點(diǎn)。當(dāng)這些測(cè)試焊盤(pán)比器件還要大時(shí)，就可以理解為什么無(wú)法對(duì)產(chǎn)品進(jìn)行１００％的電性能測(cè)試。